Nos tutelles

Nos composantes

Nos partenaires

Rechercher





Accueil > Français > Ressources > Plateformes Expérimentales > Plateforme SURFACE

Microscope à force atomique (AFM)

par ip2ct - publié le

Microscope à force atomique combiné à un microscope à effet tunnel (AFM
5100, Agilent) utilisé l’air, sous atmosphère contrôlée ou en phase liquide équipé d’une chambre environnementale, d’une cellule liquide et d’un porte-échantillon chauffant (250°C)
Scanner AFM : Balayage 90 μm en XY, 8 μm en Z Modes contact et intermittent
Scanner STM : Balayage en 1 μm en XY, 07 μm en Z

AFM : étude de la topographie et des propriétés mécaniques de tous types de matériaux
• Rugosité et nanoindentation
• Spectroscopie (courbes de force)
• Micro-manipulation